半导体器件的功率循环及热可靠性测试

本视频介绍了半导体器件的功率循环及热可靠性测试流程。

第一步：将待测器件与POWERTESTER连接，输入相关参数，校准K系数（温度敏感因子）

第二步：通过测试平台内置的触摸屏电脑，设置待测器件的循环策略，启动设备，进行全自动热瞬态及功率循环测试

第三步：数据分析（支持数据导出，进行结构函数分析、生成热模型等）