近日,据韩媒报道,韩国原子能研究院(KAERI)利用核反应堆技术,开发了世界首创的“SiC晶圆大批量掺杂技术”。该技术有3大特点:
● 一次可掺杂1000片,产能提升数百倍。
● 掺杂均匀度提高到 0.35%,而传统掺杂均匀度在 6%,提高了17倍。
● 2023年将会量产。
KAERI的碳化硅中子掺杂反应堆设备
2月10日,韩国原子能研究院(KAERI)宣布,他们已开发出一种可以
大批量
实现
碳化硅晶片掺杂
的技术。
据介绍,该技术的主要是基于韩国核反应堆“Hanaro”设备的“
中子嬗变掺杂(NTD)
”技术。
通过该技术,KAERI已经开发了一个可以
同时
对
1000片4英寸碳化硅晶圆
进行掺杂的设备。
同时,KAERI开发了一种可以将
中子掺杂均匀度
(RRG)保持在
1%以内
的技术。据介绍,目前传统碳化硅晶圆的掺杂均匀度在 6% 的水平,而该研究团队将掺杂精度提高到
0.35%
的水平,相比之下提升了
17倍
。

据“三代半风向”了解,1996 年1月,KAERI的中子应用反应堆 (
HANARO
) 开始运行。2002年KAERI完成了“硅锭掺杂技术”开发,2010 年其辐照硅的产量超过30吨。
2021年6月,KAERI进行了
碳化硅NTD实验
。Hanaro负责人关光民说:“我们的目标是到
2023年
,真正实现碳化硅功率半导体NTD掺杂的
商业化
。”

由于碳化硅的键强度高,杂质扩散所要求的温度(>1800℃)大大超过硅器件工艺,层间介质和栅极氧化层(SiO
2
,Si
3
N
4
)等不能承受这么高的温度,所以器件制作工艺中的掺杂不能采用扩散工艺,只能利用
外延控制掺杂
和
高温离子注入掺杂
。
常规的离子注入很难提高SiC掺杂的均匀性,KAERI认为唯一可行的方法就是
中子掺杂
。
简单来说,中子嬗变掺杂(NTD)是通过将中子照射到
碳化硅单晶(锭)
上,并将极少量的原子核转化为磷(P)来制造半导体的原理。

与直接添加磷的一般化学工艺相比,磷分布更均匀。由于这些优点,NTD主要用于生产控制
高电压
和
大电流
的超高质量
功率半导体器件
。

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与常规方法相比,这种掺杂方法的优点是
掺杂均匀
、
精确度高
,可控制掺杂量(电阻率)。

据介绍,KAERI 的核反应堆 (HANARO) 在反射器区域有2个垂直照射孔NTD1和NTD2,这是他们实现
硅和碳化硅中子嬗变掺杂
(NTD) 的设施。
除了碳化硅晶片NTD掺杂外,KERI在
碳化硅器件
的开发方面也非常有经验。
2015年12月,KERI宣布开发出
碳化硅功率半导体器件
,并与Maple半导体签订了技术转让合同。
2021年4月21日,KERI与YES Power Technix达成技术转让协议,以1163万人民币将
SiC MOSFET(沟槽结构)技术
转让给后者。