光刻技术第11期 | 矢量OPC数值计算与分析1

光刻技术第11期 | 矢量OPC数值计算与分析1的图1

01/简介

光刻技术第11期 | 矢量OPC数值计算与分析1的图2

验证矢量OPC技术对最佳焦面成像保真度的提升效果,对比WP罚函数与GWP罚函数的性能差异。


02/考虑最佳焦面成像图形保真度的仿真结果

采用WP和GWP两种罚函数PSM的OPC优化结果如图所示。针对同一图形,左侧为采用WP的结果,右侧为采用GWP的结果。其中,两种线条图形的CD均为45nm。光刻系统为照明波长193nm、NA=1.2的浸没式光刻系统采用相干因子为σ=0.12的圆形照明,对垂直线条采用Y偏振照明,对水平线条采用X偏振照明,掩模为AItPSM型PSM。


为了验证WP罚函数在降低掩模复杂度方面的作用,在OPC的优化损失函数中分别加入传统WP和GWP两种罚函数项,并对比PSM的OPC优化结果,分析WP和GWP在降低掩模复杂度和提高成像质量方面的性能。


仿真通过调整WP和GWP的加权系数权衡成像误差和掩模复杂度这两个相互制约的因素。因此,仿真对WP和GWP采用相同的加权系数、从而能够更加公平地比较两种罚函数方法。


光刻技术第11期 | 矢量OPC数值计算与分析1的图3

采用WP和GMP两种罚函数PSM的OPC优化结果

03/仿真结果

针对垂直密集线条、水平线条的PSM掩模优化:

• 掩模复杂度:用“分割梯形总数”衡量,GWP罚函数使梯形数增多(如垂直线条从688增至818)。

• 成像保真度:用PAE(成像误差)、CDE(关键尺寸误差)衡量,GWP罚函数更优(如水平线CDE从20nm降至0nm,PAE从872提升至796)。

04/结论

GWP罚函数在平衡掩模复杂度与成像保真度上更具优势,可在可接受的掩模复杂度增加范围内,显著降低成像误差(CDE)、提升成像质量(PAE)。

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