Evident奥林巴斯倒置显微镜IXplore IX85 SpinXL

在高端光学成像领域,视场(FOV)与成像速度的平衡一直是技术攻坚的难点,Evident(前身为奥林巴斯生命科学部门)推出的 IXplore IX85 SpinXL 转盘共聚焦显微镜,正是为了解决这一痛点而生的旗舰级设备,该系统基于 IXplore IX85 平台构建,融合了 CrestOptics 的转盘技术,旨在为材料科学、工业检测及精密制造领域提供前所未有的超大视场与高速成像能力。

引用:

Evident奥林巴斯显微镜生物官网:https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/

Evident-奥林巴斯倒置显微镜-IXplore IX83 SpinSR:https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/microscopes/inverted/ixplore-ix85-spinxl/

Evident奥林巴斯倒置显微镜IXplore IX85 SpinXL的图1
一、 26.5 mm 超大视场:重新定义成像效率
IXplore IX85 SpinXL 最显著的技术突破在于其 26.5 mm 的超大视场数(FN),在传统显微镜系统中,为了覆盖大面积样品,往往需要采集数千张图像进行拼接,这不仅耗时,还容易引入拼接伪影。
根据官方数据对比,在处理同等面积的样品时,IX85 SpinXL 相比传统的 FN22 系统可减少约 30% 的图像采集数量,相比 FN25 系统也能减少 15%,这意味着在检测大尺寸晶圆、大面积复合材料或宏观工业组件时,用户能够以更少的时间获取完整的数据集,极大地提升了通量和检测效率。
二、 核心光学架构与高速成像性能
该系统并非简单的视场扩大,而是在保持高分辨率的前提下实现了速度的飞跃。
高速采集能力:系统支持在全画幅(26.5 mm FOV)下实现高达 498 fps 的成像速度,这种微秒级的响应能力,使其能够捕捉高速移动的工业组件或瞬态物理现象。
双相机扩展性:为了进一步提升多通道检测效率,系统支持双相机配置,用户可以同时采集两个荧光通道,无需在通道间切换,保证了时间同步性,这对于需要多光谱分析的材料检测至关重要。
精密的转盘技术:搭载 CrestOptics 转盘技术,配合密封设计的转盘盒(Disk Box),有效防止灰尘污染光学元件,系统提供多种转盘模式,包括标准模式(50 µm 针孔/250 µm 间距)、高通量螺旋模式以及深层成像模式(50 µm 针孔/400 µm 间距),用户可根据样品的厚度和密度灵活切换,优化光学层切能力。
三、 近红外(NIR)成像与深层穿透
针对厚样品或高散射材料的检测需求,IX85 SpinXL 强化了 近红外(NIR)成像能力。
深层穿透:利用 730 nm 等长波长激光,显著减少了光在样品内部的散射,从而获得更深的穿透深度。
低背景噪声:NIR 波段有效降低了样品自身的自发荧光干扰,提高了信噪比。
多路复用扩展:结合 405 nm 至 730 nm 的宽光谱范围,系统支持多达 7 个通道的同步检测,为复杂材料的成分分析提供了丰富的光谱维度。
四、 智能化控制与稳定性设计
在工业级应用中,系统的稳定性与自动化程度直接决定了数据的可靠性。
微秒级同步控制:系统内置 U-XRTC 实时控制器,作为系统的“指挥家”,通过 16 个 TTL 输出和 16 个模拟输出,以微秒级精度协调激光器、转盘和相机,相比传统的 USB 控制,这种硬件级同步大幅降低了时间抖动,确保了高速成像下的数据准确性。
TruFocus™ Z 轴漂移补偿:在长时间监测或大尺度扫描过程中,环境温度的微小变化可能导致焦面漂移,TruFocus™ 技术能够实时监测并自动校正 Z 轴焦点,确保在数小时甚至数天的连续运行中,图像始终保持清晰锐利。
X Line 物镜系列:为了匹配 26.5 mm 的超大视场,Evident 专门优化了 X Line 系列物镜,这些物镜在整个视场范围内都提供了卓越的球差和色差校正,配合高数值孔径(NA),确保了图像边缘与中心具有同等的高分辨率和对比度。
五、 技术参数概览
下表汇总了 IXplore IX85 SpinXL 的关键技术指标,供专业技术人员参考:
参数项目:规格指标
显微镜机架:IXplore IX85 (IX85P1ZF, IX85P2ZF)
视场数 (FN):26.5 mm (对角线)
成像速度:全画幅下最高 498 fps
分辨率 (1.4 NA):横向 ~230 nm / 轴向 ~600 nm
激光波长:405, 445, 470, 488, 520, 530, 555, 577, 640, 730 nm
光谱范围:激发: 400–750 nm; 发射: 400–850 nm
相机端口:2 个 (支持双相机同步)
控制方式:USB, TTL (微秒级精度)
软件平台:cellSens Dimensions

Evident IXplore IX85 SpinXL 不仅仅是一台显微镜,它是一个高度集成的精密光学检测平台,通过突破性的 26.5 mm 视场、微秒级的硬件同步控制以及灵活的光谱配置,它成功解决了大视场与高分辨率难以兼得的技术矛盾,对于追求极致检测效率和数据精度的工业研发与质量控制场景而言,IXplore IX85 SpinXL 无疑提供了一个强有力的技术解决方案。
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