网络研讨会报名 | Ansys 2020 R1针对SI/PI和EMC技术亮点及案例分享

一款电子产品若要实现成功设计,需要针对其电源完整性、信号完整性和热完整性的共同分析,但面对诸如电磁干扰 (EMI)、串扰、电源完整性、过热等等问题时又很难预测,测量起来也很昂贵。Ansys 信号完整性 (SI) 分析产品对于现代高速电子设备中的高速串行通道、并行总线和完整的供电系统设计十分重要,有助于在设计早期发现布局前和布局后的功率和信号完整性问题,可预测 EMI/EMC、电源完整性和信号完整性等问题, 从而在构建和测试前优化系统性能,减少高速数字系统的信号完整性问题,提高其可靠性和性能,从而一次性成功完成设计。

Ansys SIwave 是一个专业化的设计平台,可实现 IC 封装和 PCB 的电源完整性、信号完整性和 EMI 分析。它可帮助用户建模、仿真和验证现代高性能电子产品中的高速通道和完整电力传输系统,并满足严格的 EMI/EMC 标准,这是将电子/电气产品推向市场的关键。Ansys 仿真解决方案可大幅节省昂贵的 EMI/EMC 测试费用,从而提升产品系统性能并降低成本,加速上市为企业带来竞争优势。近期,我们还将上线全新网络研讨会系列——「Ansys 2020 R1针对SI/PI和EMC技术亮点及案例分享」,欢迎报名!


【Ansys 2020 R1针对SI/PI和EMC技术亮点及案例分享】

活动形式:网络直播

时间:每天16:00

费用:免费

5月21日 | Ansys 2020 R1 CISPR25传导发射仿真

简介:通过传导辐射测试认证是多数电子设备必须完成的EMC认证要求,利用虚拟分析技术可以在产品设计前期评估EMC性能,中期进行EMC设计优化与验证,后期完成测试认证失败的整改措施分析等,有关EMC的建模仿真的思路非常关键、本次研讨会主要是基于Ansys平台解决方案包括HFSS、SIwave、Q3D、Circuit,并结合CISPR25测试标准中的电源回线传导干扰虚拟仿真的案例,不但讲述传导辐射仿真的分析思路,而且现场演示案例的实际操作,进一步让用户掌握传导辐射的仿真方法。

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网络研讨会报名 | Ansys 2020 R1针对SI/PI和EMC技术亮点及案例分享的图1

5月22日 | Ansys 2020 R1 CISPR25辐射发射仿真

简介:通过EMC辐射发射测试认证是多数电子设备必须面临的问题,利用虚拟分析技术可以在产品设计前期评估EMC性能、中期进行EMC设计优化与验证,后期完成测试认证失败的整改措施分析等,有关EMC的建模仿真的思路非常关键、本次研讨会主要是基于Ansys平台解决方案包括HFSS、3D Layout、SIwave、分享包括有PCB、机壳、线缆等部件电子设备的辐射发射仿真分析思路与方法,并结合案例进行软件的操作演示,解答该仿真领域的一些常见应用问题。

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5月26日 | Ansys 2.5D/3D IC封装仿真分析案例分享

简介:2.5D/3D IC相比较传统IC具有更高的功能密度。通过包含键合、倒装、堆叠、Interposer和RDL再布线层等技术的组合,实现很高的功能密度,具有明显的系统优势,由于2.5D/3D IC设计的复杂性,需要用三维电磁场工具精确抽取片上和封装的三维电磁寄生效应,本次网络研讨会基于HFSS最新推出的2.5D/3D封装仿真流程,帮助设计者完成GDS导入,interposer模型处理及3D全波仿真等过程,充分了解和体验HFSS针对2.5D/3D IC设计的全新解决方案。

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网络研讨会报名 | Ansys 2020 R1针对SI/PI和EMC技术亮点及案例分享的图3

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