成像系统杂散光分析，详解镜头杂散光解决方案新进展

随着摄像头在汽车、消费电子、安防、机器视觉等领域的广泛应用，杂散光成为镜头模组设计和使用中的核心问题。在摄像镜头形成物体的实像时， 除了成像光线，还有非成像光线，即杂散光。来自镜片、机械结构、CMOS传感器的反射光、散射光可能到达像面都会造成杂散光。

任何光学系统都会存在杂散光，成像系统杂散光是可见光光学系统中需要重点分析的杂散光来源之一，预期设计的光线经过折射光学元件的过程中，会有少量的非预期光线经过散射、反射也到达像面，对正常光路成像产生负面影响。因此，在设计光学系统的过程中为保证系统的正常运行，要尽可能将杂散光降低。

7月11日，Ansys 将推出「成像系统杂散光工作流更新」主题网络研讨会，介绍Ansys镜头杂散光解决方案的新进展，使用Zemax OpticStudio、Speos和Lumerical综合考量镜头和CMOS特性，通过光线追迹、序列检测等方法分析杂光来源，并对系统进行优化。

讲师：

马鎏学 | Ansys 高级应用工程师

Ansys 高级应用工程师。参与过汽车、航空、电子领域客户光学方案的咨询和技术支持。目前负责Ansys SPEOS技术工作。

形式：线上

费用：免费

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