工业奥林巴斯光学显微镜BX53-P

奥林巴斯BX53-P偏光显微镜专为高精度偏振光观测而打造，集成UIS2无穷远校正光学系统与低应力光学元件，在工业材料分析领域展现出卓越性能。该系统适用于晶体结构、复合材料、矿物薄片及其他各向异性样品的观察与定量评估。

奥林巴斯光学显微镜：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/opt/

产品链接：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/bx53-p/

其核心优势在于高度稳定的光学路径设计。即便在引入检偏器、补偿器或波片等偏振组件时，UIS2架构仍能维持成像质量无衰减，并有效消除附加元件引起的放大倍率偏差，从而保障从基础观测到复杂干涉图分析的一致性与准确性。此外，系统兼容BX3系列中间附件及各类工业相机与数字成像设备，便于无缝集成至自动化检测流程中。

BX53-P配备可调焦Bertrand透镜，支持明场（orthoscopic）与锥光（conoscopic）模式快速切换，清晰呈现后焦面干涉图样。配合视场光阑优化，可稳定获取高对比度锥光图像，满足对晶体取向及双折射特性的精细解析需求。

为提升测量灵活性，系统提供六种补偿器选项，延迟量程覆盖0至20λ（约11000 nm）。其中，Berek与Senarmont补偿器支持全视场内连续调节延迟值，适用于高对比成像与精确双折射量化；Brace-Koehler系列则针对微弱双折射信号提供亚纳米级灵敏度。搭配546 nm干涉滤光片使用，可进一步提升测量重复性与精度。

机械结构方面，BX53-P搭载高精度旋转载物台，内置45°定位卡位及中心调节机构，确保样品旋转过程平稳精准。选配双机械移动平台后，可实现微米级X-Y方向精确定位，适用于大面积样品的系统性扫描与比对分析。

凭借低应变物镜、模块化扩展能力与可靠的机械设计，BX53-P为材料科学、地质分析及先进制造等领域提供了高效、精准的偏振光检测解决方案。