德国Optris Xi 1M：专为高温金属测量打造的紧凑型短波红外热像仪

德国Optris Xi 1M是一款专为工业环境设计的高性能短波红外（SWIR）热像仪。它突破了传统长波红外的限制，专门针对热金属、钢铁、陶瓷和半导体等“难以测量”的物体进行非接触式表面温度成像。凭借其紧凑坚固的设计和自主运行能力，Xi 1M能够在无需额外硬件的情况下，为工业制造过程提供精确、可靠的热数据。

核心技术优势：为何选择短波红外？

在测量高温光亮材料（如钢、铁、铜、半导体）时，传统长波红外热像仪常因材料发射率低且不稳定而导致读数偏差。Optris Xi 1M采用0.85–1.1 µm的短波红外光谱设计，完美解决了这一痛点：

匹配金属发射率：短波范围与大多数金属材料的高发射率区域相匹配，显著提高了测量的准确性和重复性。

高辐射强度：根据普朗克辐射定律，高温物体在短波段发射的红外辐射显著增加，这使得Xi 1M在测量450°C以上的高温时，比长波设备更具优势。

穿透氧化层干扰：在锻造等工艺中，工件表面的氧化层往往掩盖真实温度，短波技术能更准确地捕捉表面实际温度，减少误差。

关键性能参数

宽广的高温量程：测量范围覆盖450°C至1800°C，且无需切换子量程，即可实现全量程的高精度测量。

高清热成像：配备高动态CMOS探测器，分辨率为396 x 300像素，能够捕捉细微的温度分布差异。

卓越的光学性能：拥有极高的距离系数比（D:S），即使在远距离也能精准锁定小目标。

电动对焦：支持远程电动对焦功能，用户无需接触设备即可精确调整焦距，极大提升了安装和维护的便利性。

工业级连接与集成

Xi 1M专为工业物联网（IIoT）和自动化控制设计，具备强大的连接性和自主运行能力：

多重接口：标配以太网（Ethernet）和USB接口，支持模拟输出（0/4-20mA）及数字过程接口。

现场总线兼容：无缝集成至Ethernet/IP、Modbus TCP/IP、Profinet等工业现场总线系统，是OEM设备集成的理想选择。

智能自主运行：具备“自动热点查找”功能，可直接输出模拟信号或报警，无需复杂的软件编码即可嵌入控制回路。

高级软件支持：通过PIXConnect软件，用户可进行线扫描、图像合并等高级分析，满足研发和深度质量控制的需求。

坚固耐用，适应恶劣环境

该设备采用工业级防水、坚固外壳设计，专为严苛的制造环境打造。为了应对极端工况，Xi 1M还提供丰富的配件支持：

水冷外壳：可将工作环境温度耐受度扩展至250°C。

空气净化装置：有效防止灰尘和颗粒物附着镜头，确保在多尘、烟雾环境中持续获得清晰图像。

应用领域

冶金与锻造：监控钢材、铁、黄铜、铜的加热与冷却过程。

半导体制造：精确测量晶圆等半导体材料的温度分布。

陶瓷与碳加工：监测高温烧结过程中的温度均匀性。

质量控制与研发：用于生产线的实时热监控及实验室热分析。