Klippel Scanner计算频响曲线

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一款常见单元的Klippel Scanner计算得到的频响曲线，AAL和Total SPL。

其Total SPL1k以后的谷位非常深，根本不像实际的产品。

另外以两款环状膜片压缩高音为例进行说明。

下面是测试方法图示：

两款不同压缩高音，Klippel Scanner计算的频响曲线如下：

其中蓝色是Total SPL频响，红色是Scanner计算AAL频响。

频响曲线差异分析

和产品实测的频响曲线对比来看，计算和实测频响曲线存在一定差异。

首先，从测试方法来说

• 半透明材料的反射率是一个问题。

• 高频段计算需要更密集的取点。
  

另外更重要的，从原理来考虑：

• 激光测试的膜片位移只是音圈运动方向的位移。垂直音圈方向的位移并不能被测量。因而其高频段的实际结构振动与Scanner测试是存在一定差异的。

• 另外，从Scanner计算频响的方式来说，是采用对每一点的声压贡献进行瑞利积分得到的。这种积分方式，相对于考虑声传播过程的方式(比如利用有限元方法求解)，会存在一定差异，尤其是在高频段，因为没有考虑声波传递过程。当膜片较深时，差异会更大。所以深锥低音扬声器的高频计算和实测差异会比较大。

• 通过模拟Scanner使用的积分方法和声学波动有限元两种计算方式，可以复现以上现象。

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