电子产品综合寿命评估

产品的可靠性越来越得到人们的重视，而目前评估产品寿命的方法是通过常用的加速寿命测试，比如温度加速寿命测试，运用阿伦纽斯温度加速模型，推算出计算产品的MTBF或是是失效率（λ），然后宣称产品的寿命。但是根据产品的寿命浴盆曲线和产品的失效模式，产品寿命需要考虑到不同浴盆曲线和各个种类的失效模式，如果有限的评估产品寿命需要对其各个失效模式和类型进行综合评估，本文通过对电子产品的寿命分布曲线和失效模型特点，提出了综合寿命评估是方法和具体实践。

---

嘉宾简介

李修鹏先生，在产品设计开发和可靠性工程领域有超过20年的经验，先后就职与惠普、戴尔中国研发中心、飞利浦全球技术发展中心，先后担任可靠性技术和管理职务，现任昕诺飞可靠性经理；美国质量协会认证可靠性工程师（ASQ CRE）；6Sigma黑带；ISO9000 内部审核员；美国可靠性工程师学会（SRE）上海分会主席；对可靠性工程的各方面内容都有比较深入的了解和丰富的实践经验，特别是在企业可靠性流程建立、寿命数据分析、QFD、DFMEA、可靠性试验设RDT，HALT/HASS等方面拥有丰富的实践。